日韩综合-www.青青草-超碰97免费-91久久综合亚洲鲁鲁五月天-深夜福利视频在线观看-亚洲精品国产精品乱码不卡√香蕉-黄色小视频免费在线观看-怡红院综合网-高清日韩-茄子视频懂你更多在线观看-91麻豆影视-欧美精品二区三区-亚州视频在线-九九热精-国产精品一级无码

網站首頁技術中心 > 適用于檢查光學薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設備介紹
產品中心

Product center

適用于檢查光學薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設備介紹

發布時間:2024-11-13 點擊量:999

適用于檢查光學薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設備介紹

光學分辨率1.8μm/速度檢測!
用于基材和金屬表面的缺陷檢查!

image.png


概述

這是使用高分辨率相機和高精度XY平臺的二維檢查裝置。
適用于檢查光學薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷。
光學分辨率為1.8μm,可實現高清檢查。
它還可以處理尺寸測量,還可以檢查二維沖壓產品。

特征

  • 自動保存檢測數據和圖像

  • 攝像頭像素數:900萬像素

  • 高光學分辨率(1.8μm)讓您可以清晰地看到精細的檢查點。

  • 非常適合檢查觸摸屏的外圍電極和印刷電路板上的精細布線是否有斷線和短路。


目的

用于檢查觸摸面板、異物等缺陷!

  • 觸控面板周邊電極缺陷檢測

  • 板材表面劃痕及異物檢查

  • 電路板缺陷檢查

系統配置